Im Rahmen der vorliegenden Arbeit konnten neue, wesentliche Erkenntnisse zum Kontrastmechanismus der Kraftmodulationsmikroskopie mit Modulation der Probenposition gewonnen werden. Während es in der Vergangenheit oftmals zu Problemen bei der Interpretation von FMM-Daten gekommen ist, weil der Einfluss des Bucklings auf das Detektionsverhalten des Rasterkraftmikroskops nicht berücksichtigt wurde, wurde in dieser Arbeit insbesondere der Einfluss lateraler Kräfte auf die Bewegung der Messspitze und deren Auswirkungen auf das Detektionsverhalten als Funktion der Modulationsamplitude untersucht.
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9783865373410
Edition
1