In dieser Arbeit wird die Herstellung optischer Schichten mittels reaktiver Ionenstrahlsputterbeschichtung beschrieben. Die mit diesem Verfahren hergestellten dĂŒnnen Schichten haben eine hohe QualitĂ€t mit minimalster Absorption und sind daher auch bei hohen Lichtleistungsdichten und resonatorintern einsetzbar. Durch die Verwendung verschiedener Oxide (SiO2, Al2O3, Y2O3, Ta2O5 und TiO2) eröffnet sich auf Grund des groĂen Brechungsindexbereiches eine Vielzahl optoelektronischer Anwendungen. FĂŒr die Charakterisierung der hergestellten Schichten wird vor allem die Ellipsometrie zur Bestimmung der Schichtdicke und des Brechungsindex verwendet. Die Methode der photothermischen Ablenkung ermöglicht die Ermittlung der sehr geringen Absorptionen. Messungen der spektralen Reflexion und der OberflĂ€chenrauigkeit sowie Ătzversuche ergĂ€nzen die Schichtuntersuchungen. Die Anwendungen der optischen Schichten werden vor allem an kantenemittierenden Halbleiterlasern untersucht. Entspiegelungs- (AR-), Verspiegelungs- (HR-) und fernfeldverĂ€ndernde Beschichtungen beeinflussen dabei die optischen Eigenschaften der Laser. Die Bestimmung der FacettenreflektivitĂ€t wird mit Hilfe der Messung der Schwellstromverschiebung und der Modulationsmessung nach HakkiâPaoli durchgefĂŒhrt. Durch die Passivierung der beschichteten Laserfacetten erhöht sich die Zerstörungsschwelle (COMD) und die Lebensdauer. Die dielektrischen Schichten werden zudem auch an Halbleiter-Scheibenlasern, Vertikalemittern, Leuchtdioden, Detektoren sowie an Bauelementen der Sensorik und Elektronik eingesetzt, um deren groĂen Anwendungsbereich darzustellen.

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9783865379825
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1