Aufbau und Charakterisierung eines 300 mK-UHV-10 T-Rasterkraftmikroskop-Systems und Messungen an Co-Salen auf Fe/W(001)
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Aufbau und Charakterisierung eines 300 mK-UHV-10 T-Rasterkraftmikroskop-Systems und Messungen an Co-Salen auf Fe/W(001)

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Die vorliegende Arbeit behandelt den Aufbau eines Messsystems fĂŒr die Rasterkraftmikroskopie, das fĂŒr Experimente an magnetischen Proben, insbesondere einzelnen Atomen, MolekĂŒlen oder daraus gebildeten Clustern, entwickelt wurde. Das erforderliche Auflösungsvermögen wird durch die Verwendung eines Ultrahochvakuums und tiefer Temperaturen bis hinab zu etwa 300 mK erreicht. Damit konnte wahre atomare Auflösung eines Substrats bei einer Temperatur von 548 mK und somit erstmals unterhalb derjenigen von flĂŒssigem Helium erzielt werden.Ein weiterer wichtiger Aspekt fĂŒr solch prĂ€zise Messungen ist die atomare Struktur des Messspitze, die aufgrund unterschiedlicher Reichweiten der zwischen ihr und der Probe bestehenden Wechselwirkungen spitz zulaufen und in lediglich einem Atom enden muss. Dies ist fĂŒr gewöhnlich nicht direkt gegeben, so dass verschiedene Möglichkeiten zur strukturellen Modifikation untersucht wurden. Es zeigte sich, dass das erzielte Resultat vom VerhĂ€ltnis der Steifheiten von Spitzen- und Probenmaterial abzuhĂ€ngen scheint.

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Information

Publisher
Cuvillier Verlag
Year
2015
Print ISBN
9783736990203
eBook ISBN
9783736980204
Edition
1

Table of contents

  1. Kurzfassung
  2. Abstract
  3. Inhaltsverzeichnis
  4. Kapitel 1 Überblick
  5. Kapitel 2 Grundlagen derRasterkraftmikroskopie
  6. Kapitel 3 Konzept des Gesamtsystems
  7. Kapitel 4 3He-Verdampfungskryostat
  8. Kapitel 5 Das Mikroskop
  9. Kapitel 6 Eigenschaften des Systems
  10. Kapitel 7 Testmessungen mit dem Mikroskop
  11. Kapitel 8 Co-Salen auf Fe/W(001) bei 8K
  12. Kapitel 9 Kraft-Distanz-Kurven zurSpitzenkonstruktion
  13. Kapitel 10 Zusammenfassung und Ausblick
  14. Literaturverzeichnis
  15. Veröffentlichung
  16. KonferenzbeitrÀge
  17. Danksagung