In den letzten Jahren wurden von verschiedenen Seiten große Anstrengungen unternommen, blau emittierende phosphoreszente OLEDs zu entwickeln, die eine für den kommerziellen Gebrauch taugliche Lebensdauer erreichen. Dabei wurden bislang allerdings noch keine ausreichend guten Ergebnisse erzielt. In der vorliegenden Arbeit wurden die Degradationsprozesse von zwei OLEDSystemen untersucht, mit dem Ziel, diesen entgegen zu wirken und so diese Technologie weiter voranzutreiben. Es ist bekannt, dass hochenergetisches Licht die OLED zerstört. Dementsprechend wurde die Emission von hochenergetischem Licht, das von der OLED selbst ausgeht, genauer vermessen. Dabei stellte sich heraus, dass dessen Intensität mit der Lebensdauer des Bauteils korreliert.
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Information
Print ISBN
9783736993136
Edition
1Table of contents
- Danksagungen
- Kurzfassung (deutsch)
- Abstract (english)
- Inhaltsverzeichnis
- Kapitel 1 Einleitung
- Kapitel 2 Theorie
- Kapitel 3 Probenherstellung undMessverfahren
- Kapitel 4 Einführung in die Degradationvon OLEDs
- Kapitel 5 UV-Licht in OLEDs
- Kapitel 6 Polaronabsorption
- Kapitel 7 Bestimmung derLadungstr¨agerpfade
- Kapitel 8 Exziton-Polaron-Quenching
- Kapitel 9 Polaroninduzierte Degradation
- Kapitel 10 Zusammenfassung und Ausblick