Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée
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Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée
À propos de ce livre
La sérieFiabilité des systèmes multiphysiquess'intéresse aux avancées de la recherche et de l'industrie appliquées aux domaines de l'optimisation, de la fiabilité et de la prise en compte des incertitudes des systèmes. Ce couplage est à la base de la compétitivité des entreprises dans les secteurs de l'automobile, de l'aéronautique, du génie civil ou de la défense.Par son approche interdisciplinaire, la mécatronique permet l'intégration en synergie de la mécanique, de l'électronique, de l'automatique et de l'informatique dans la conception et la fabrication d'un produit en vue d'optimiser sa fonctionnalité.Cet ouvrage étudie la détection des défauts de matériaux par la lumière polarisée à partir d'une analyse optimisée des données expérimentales basée sur des modèles statistiques et théoriques. Les méthodes mises en oeuvre dans le cadre de recherches fondamentales sur les matériaux innovants sont explicitement décrites.Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polariséedéveloppe également les différentes théories sur la lumière, ses états de polarisation et son interaction avec la matière. Il présente les techniques optiques de type sonde et pompe-sonde qui permettent de caractériser les défauts des matériaux susceptibles d'impacter la performance d'un produit.
Foire aux questions
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Informations
Table des matières
- Cover
- Table des matières
- Avant-propos
- PREMIÈRE PARTIE. Incertitudes et approches statistiques en conception
- DEUXIÈME PARTIE. Théorie et expérimentation en lumière polarisée
- TROISIÈME PARTIE. Caractérisation de nanodéfauts et de nanomatériaux
- Bibliographie
- Index